
Material Characterization
Ramcon tilbyder forskelligt udstyr og tilbehør til materiale og partikel karakterisering og måling.
Partikelstørrelser, størrelsesfordelling, lysspredning, zetapotentiale, XRF, XRD, røngtendiffraktion, røngtenflourescence, frysemøller, fluxer,
laser diffraktion, vapor sorption, adsorption/desoption, korrosionstest, saltspray test,krystalinitet, scanning elektron mikroskop, stereo mikroskop, måle mikroskoper, inverteret mikroskop og digitale mikroskoper.
Med vores mange specialister, serviceteknikere og supportere, hjælper vi vores kunder med at få udstyr og løsninger integreret i laboratoriet, så der opnåes hurtigere og bedre resultater.
Partikelstørrelser, størrelsesfordelling, lysspredning, zetapotentiale, XRF, XRD, røngtendiffraktion, røngtenflourescence, frysemøller, fluxer,
laser diffraktion, vapor sorption, adsorption/desoption, korrosionstest, saltspray test,krystalinitet, scanning elektron mikroskop, stereo mikroskop, måle mikroskoper, inverteret mikroskop og digitale mikroskoper.
Med vores mange specialister, serviceteknikere og supportere, hjælper vi vores kunder med at få udstyr og løsninger integreret i laboratoriet, så der opnåes hurtigere og bedre resultater.
Filter by:
- Automation
- Analysis & Lab Equipment
- Cell Solutions
- Material Characterization
Products
6875 Large FreezerMill, single chamber
Advanced Cyclic Corrosion
Advantage Elevated Temperature
Andor Technology
Condensation chambers
CoolLed illumination
Coulter Counter, Z-series
Cylic Corrosion Tests (CCT)
DelsaMax Zetapotential
Dvs Advantage
DVS Intrinsic
DVS Vacuum
GenoGrinder 2010
iGC-SEA Surface Energy Analyzer
Inspectis C12
Kesternich (SO2) chambers
LS 13 320 XR - Laser Diffraction
MultiSizer, Coulter Counter
Nikon analysis software
Nikon mikroscope cameras
Nikon scanning electron microscope
Nikon upright microscopes
Photonic Optics
Salt spray chambers
SMX Small molecule X-ray
Vapor Pressure Analyser
ViCell, Automated Cell Viability
X-300 - Multi-position Electric Fluxer
X-600 - 6 position Electric Fluxer
X-ray diffraction (XRD)
X-ray fluorescence (XRF)
View All
Dybdegående partikelseminar
Teknologisk institut og RAMCON inviterer til seminar om partikelkarakterisering.
Vi støtter Red Barnet 2017
RAMCON støtter op om Red Barnets arbejde for de dårligst stillede børn i Danmark.